FAST aborda la ineficiencia del muestreo en el aprendizaje por refuerzo para conducción autónoma introduciendo Alineación de Muestreo Paralelo Dinámico para desacoplar la terminación del episodio de los bucles de muestreo. Logra una aceleración de hasta 1.78 veces en tiempo real frente a las líneas base de un solo clip, mientras mantiene la ausencia de sesgo estadístico mediante Optimización de Relleno de Máscara Escalada.