Nvidia 연구원 N. Horrocks는 안정화 회로와 확률적 파울리 오류를 처리하도록 설계된 확장 검출기 오류 모델(EDEMs)을 소개합니다. 이 모델들은 물리적 회구 구현의 구조를 반영하여 순차 및 병렬로 오류 분석을 조합할 수 있게 합니다.

  • EDEMs은 오류 진단에 사용되는 측정 패리티인 검출기가 회로 경계 전반에 걸쳐 분할되도록 합니다.
  • 이 접근 방식은 조립된 회로의 검출기 오류 모델이 복원되는 특정 조건을 확립합니다.
  • 이 구조는 전체 회로 계열에 대한 기호적 사전 컴파일 및 분석을 지원합니다.
  • 이는 디코딩 창과 커밋된 보정이 후속 창에 영향을 미치는 경계 정보에 대한 오류 모델을 정의합니다.

이 인터페이스는 개별 논리 연산의 설계를 전개 중인 양자 프로그램의 디코딩에 연결하여 측정 결과가 후속 연산을 결정하는 런타임 과제를 해결합니다.